ঢাবির ভর্তি পরীক্ষায় ডিজিটাল চুরি করে ধরা পড়ে ১৫ দিনের কারাদণ্ড!!

১৩ ই অক্টোবর, ২০১৭ রাত ৮:২৬

ঢাকা বিশ্ববিদ্যাালয়ের (ঢাবি) বিজ্ঞান অনুষদভুক্ত ‘ক’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির প্রক্সি ও ডিজিটাল জালিয়াতির অভিযোগে ১২ জনের কারাদন্ড দিয়েছে ভ্রাম্যমান আদালত।


মাস্টারকার্ডের মত ইলেক্ট্রনিক ডিভাইসে সিম কার্ড ঢুকিয়ে কেন্দ্রের বাইরে যোগাযোগ করে উত্তর সংগ্রহের সময় তারা হাতে নাতে ধরা পরে।
ঢাকা জেলা প্রশাসনের নির্বাহী ম্যাজিস্ট্রেট তৌহীদ এলাহী জানান, আটককৃতরা মাস্টারকার্ডের মত ইলেক্ট্রনিক ডিভাইস নিয়ে আসে যার ভেতর সিম কার্ড সেট করা ছিল এবং তাদের কানে ঢুকানো ছিল অতিক্ষুদ্র তারবিহীহিন হেডফোন। যা দিয়ে তারা কেন্দ্রের বাইরে যোগাযোগ করে উত্তর সংগ্রহ করছিল।

এটা ছিল আজকের একটি নিউজ যেটিকে আমরা দুই ভাবে নিতে পারি এক দেশে চোর বাটপাররাও ডিজিটাল পদ্ধতি ব্যাবহার শুরু করে দিয়েছে, সুতরাং এটি আমাদের জন্য খুব খারাপ কিছুর ইঙ্গিত দিচ্ছে। অন্যদিকে যিনি এই প্রযুক্তি আবিষ্কার করেছেন তাকে আমাদের বিজ্ঞানও প্রযুক্তি উন্নয়নের সাথে যুক্ত করে এই খাতটিকে এগিয়ে নিতে পারি।

নিঃসন্দেহে যিনি বা যারা এই পদ্ধতি আবিষ্কার করেছেন তারা অনেক মেধাবী যাদের ভালো কাজে ব্যাবহার করতে পারলে দেশ এগিয়ে যাবে যেমনটি করে দেখিয়েছেন বিলগেটস। এক সময় তিনি মার্কিন গয়েন্দা অধিদপ্তরের তথ্য হাক করেছিলেন অথচ পরবর্তীতে মার্কিন মার্কিন গোয়েন্দা সংস্থা তাকে ব্যাবহার করে নিজেদের গোয়েন্দা তথ্যকে সুনিরাপদ করেছে। সুতরাং এখন দেখার বিষয় দায়িত্বপ্রাপ্ত ব্যাক্তিরা এসব সম্ভাবনাময় অস্ত্রগুলোকে কীভাবে কাজে লাগাবে।

২০ টি +২/-০